二手 RUDOLPH Waferview 320 #9311788 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
RUDOLPH Waferview 320是設計用於半導體制造廠的尖端掩模和晶圓檢測設備。該系統高度自動化,采用各種視覺和晶圓檢測技術來檢測和診斷任何現有缺陷,並為制造商提供對生產過程的前所未有的控制。從測量模具尺寸到分析顆粒，RUDOLPH Waferview單元提供了無與倫比的精度和可靠性。該機采用光學和X射線晶片檢測技術進行了優化。Waferview 320使用可變入射角照明來捕獲一致的圖像進行審查和測量。此外,該工具還配備了12英寸自動缺陷審查轉盤,並配備了可自動對準晶片的精確線性級。此外，資產的宏設備識別能力和模式識別能力允許快速和高效的檢查過程。RUDOLPH Waferview 320還提供了一系列高級功能,旨在確保每次都能獲得精確的結果。利用RUDOLPH專利的多模功能,用戶可以根據需要快速輕松地在各種檢查模式之間進行更改。Waferview 320還提供了用於缺陷分析和表征的高級技術,包括粒子分析、3D測量或軸識別,以及具有多級修補程序和雙通道檢測的高級缺陷區域測量。RUDOLPH Waferview 320也是高度可定制的。該模型可以量身定制以滿足任何行業用戶的需求，提供各種適合單個應用程序的選項。Waferview 320還可以適應一系列實驗室配置和生產要求,確保隨時間推移易於維護和升級。最後，RUDOLPH Waferview 320是一款健壯的設備，在整個檢測過程中為用戶提供前所未有的準確性和可靠性。無論是用於一般自動化、測試驅動、晶片級分析、粒子測量還是缺陷表征，Waferview 320都是任何半導體制造廠的資產。此外，系統直觀的用戶界面和快速的處理速度，讓大家無論經驗水平如何，都容易使用。
還沒有評論