二手 RUDOLPH Waferview 320 #9311789 待售

RUDOLPH Waferview 320是一款面向半導體行業的領先、綜合的掩模和晶圓檢測設備。它將數字CMOS傳感器與先進的軟件編程技術相結合，提供了對各種缺陷的最高質量的成像和分析，以及對照片處理過的掩模和晶片的設計信息。Waferview 320每像素可提供高達2000微米的圖像（比其他系統的分辨率高2倍）,從而確保了極其精確的缺陷檢測和分析。其圖像捕獲和缺陷報告功能簡化了全面檢查晶片的過程，確保了產品的最高質量。RUDOLPH Waferview 320的一個獨特特點是它的激光自動對焦和跟蹤。該系統允許進行面向細節的成像和缺陷定位,這對於精確檢查晶片至關重要。Waferview 320還利用了先進的邊緣檢測和對比度算法，允許對較小、較不明顯的缺陷進行檢測和分析。除了成像能力外，RUDOLPH Waferview 320還進行了廣泛的測量以檢測和分類缺陷。這些測量是以高精度進行的，允許測量尺寸小至單微米。Waferview 320的軟件編程人性化、直觀。它允許簡單的設置和操作，允許用戶輕松調整參數和定制檢查單元，以滿足他們的具體要求。此外,軟件還提供了一份全面的用戶報告,其中提供了有關檢查過程中發現的任何缺陷的詳細信息。總體而言，RUDOLPH Waferview 320面膜和晶片檢測機是研究有缺陷或有缺陷的光處理面膜和晶片的一種多合一解決方案。它提供了高級成像功能和缺陷測量,提供了最高的成像分辨率和質量,以及易於用戶設置和操作。這些特性保證了對產品的準確檢驗，並產生了最佳的產品質量。