二手 RUDOLPH WV 320 #9123216 待售

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ID: 9123216
Macro defect inspection system, 12" 2005 vintage.
RUDOLPH WV 320是為半導體工業設計的掩模和晶圓檢驗設備。該系統能夠檢測半導體制造中用於制造過程的掩模和晶片的特性。它配備了高度先進的技術,使設備能夠精確檢測和識別甚至是口罩和晶片中最小的缺陷。該機由一臺高清數碼彩色相機組成,可以對面罩和晶圓表面進行詳細檢查。這款相機具有4K分辨率、最大光靈敏度以及廣泛的動態範圍,可實現清晰清晰的圖像。該工具還配備了最新的光學圖像分析軟件,可以自動檢測缺陷。該軟件具有高精度和高精度的檢測能力,甚至可以檢測到最小的缺陷和缺陷。該資產還配備了可進行精確定量分析的數字動態針線鏡,以及用於精確尺寸測量的激光尺。這樣可確保掩模和晶片樣品符合任何特定工藝的行業標準規範和規範。為確保準確性,模型可以使用對比度和聚焦成像來識別微小的表面缺陷,如劃痕、顆粒和殘留汙染。加上其強大的圖像處理和缺陷檢測能力,設備可以檢測到廣泛的缺陷和缺陷,包括楔形、孔形、IC貼線、墊位等。它甚至能夠在掩模和晶片經過各個工藝階段時檢測到其收縮或膨脹,並能夠在任何制造工藝中使用掩模和晶片之前檢測到潛在的缺陷。此外,系統還包括一個直觀的用戶界面,設計為既用戶友好又直觀。導航菜單和直觀的圖標使設備的操作簡單快捷。用戶界面還允許快速訪問各種成像功能和工具,並能夠設置用戶定義的參數以提高準確性。此外,該機器還具有內置的自學能力,使其能夠在分析和檢查更多圖像時更好地識別缺陷。RUDOLPH WV320是一種健壯可靠的掩模和晶片檢驗工具,有助於降低報廢率,優化產品產量,提高生產質量。它結合了先進的技術和復雜的圖像處理算法,使其成為任何半導體制造應用的理想解決方案。
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