二手 RUDOLPH WV 320 #9355398 待售

RUDOLPH WV 320
ID: 9355398
晶圓大小: 12"
優質的: 2005
Macro inspection system, 12" 2005 vintage.
RUDOLPH WV 320是一種掩模和晶圓檢測設備,用於檢測半導體和內存芯片表面的缺陷。該系統使用先進的模式識別和分類算法,如卷積神經網絡(CNN),快速準確地檢測到表面模式中的異常。該單元能夠在比人工檢驗更短的時間內識別出缺陷,這也是其在半導體工業中被廣泛使用的原因。RUDOLPH WV320機使用CCD相機進行成像。成像分辨率可高達480萬像素。使用光學透鏡以確保精確成像。光源設計為均勻照亮樣品,精度高。WV 320的核心特點是其模式識別算法。該工具能夠拾取代表芯片缺陷的表面圖樣。它能夠對各種缺陷模式進行分類,範圍從坑、顆粒、空隙、劃痕等等。分類基於三個類別:正、負和不確定。根據曲面的幾何形狀確定正負缺陷。不確定的缺陷是需要進一步檢查或分析的未知模式。資產可以識別和分類細微和大的缺陷。它也有先進的插值算法,允許它識別甚至微小的缺陷。WV320帶有一個專門的軟件,它允許操作員調整模型的準確性和靈敏度。總體而言,RUDOLPH WV 320是一款功能強大的掩模和晶圓檢測設備,提供了對表面缺陷的高速準確檢測。它具有先進的模式識別和分類算法,使其成為半導體行業的可靠解決方案。該系統使用方便,精度和靈敏度可調,使用起來非常方便。這就是為什麼RUDOLPH WV320是市面上最流行的面膜和晶圓檢測系統之一。
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