二手 JEOL JEM 2010 #293627916 待售
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ID: 293627916
Transmission Electron Microscope (TEM)
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JEOL JEM 2010是日本公司JEOL Ltd制造的現代掃描電子顯微鏡。它是公司首款高分辨率超失真儀器，采用冷場發射槍和像差校正器。這使得它能夠在低放大倍率下提供出色的圖像清晰度和無與倫比的對比度,以及更高的放大倍率以獲得更多細節。其工作電壓範圍延伸至250 kV，使其適用於種類繁多的樣品，包括大型無機樣品。其專用的二級和三級電子探測器允許收集各種信號，如反向散射和高角度環形暗場（HAADF）圖像。這使使用者在使用儀器時有更大的控制和彈性。JEOL JEM-2010還有一個柱式Gimbal舞臺設計，允許在高放大倍數下進行更精確和精確的樣本導航。這對於在處理需要精確導航的樣本時識別某些特征非常重要。此外，JEM 2010配備了EDS（能量色散X射線光譜學）探測器，允許識別樣品中存在的元素，並提供對其組成的見解。該儀器還有一個冷凍轉移選項，允許樣品在分析過程中保持恒定溫度，從而消除了熱失真的可能性，並確保更高的結果準確性。最後，JEM-2010有一個自動化和可編程的階段，允許以最低的用戶工作量和大大提高效率來輕松執行日常任務。該儀器還附帶了一套軟件包，包括用於采集和自動圖像分析的MultiMaster軟件，使其成為電子顯微鏡的多功能一體儀器。
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