二手 JEOL JEM 2010 #293639508 待售
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ID: 293639508
優質的: 1991
Transmission Electron Microscope (TEM)
Filament: Lab6
Accelerating voltage: 80kV to 200 kV
HT Tank: Insulating gas: SF6
Analytical object pole piece
AMT Camera: Bottom mount, 3296 x 2857 pixels, 9 Mb
Mag range: 2000 to 1.5M (Without AMT Camera)
Mag range: 26000 to 19.5M (With AMT Camera)
Electron diffraction camera length: 8 cm to 200 cm
Single tilt holder: Specimen capacity: 1
Double tilt holder
Motorized stage (X, Y, Z): ±1 mm
Specimen tilt angle: ±30°
Gun and column ion pump: Minimum pressure: 10^-8 torr with cold trap filled
HASKRIS Recirculating water chiller
THERMO FISHER NORAN System 7 EDS (SiLi)
1991 vintage.
JEOL JEM 2010是一款功能豐富的掃描電子顯微鏡（SEM）設備，專門為材料研究、故障分析和逆向工程應用而設計。它提供了多種功能來提供高分辨率映像和解決方案。JEOL JEM-2010利用三個電子柱的組合，可提供15nm-10 μ m的觀察範圍，1kV時最大分辨率極限為1.2nm。它配有先進的透鏡內Cs探針,可進行最佳光束聚焦,在高達200 μ A的高電流下工作。這樣可以實現高精度和高精度的光束控制。JEM 2010能夠產生多種成像模式，使用戶能夠通過能量色散X射線分析（EDS）揭示表面特征並執行元素映射。此外，利用電子束感應電流和電子束感應插入損耗的測量能力，可以同時獲取樣品電學特性和形態信息。JEM-2010還提供了廣泛的SEM列,每個SEM列都可以根據當前應用進行定制。由空氣或油氣阻尼器組成的JEOL SEM防振系統確保穩定運行，而自動光束消光裝置則保護來自電子束的物鏡和樣品表面。這種顯微鏡的標本級是可互換和機動的，用於手動或編程操作，行進範圍為X 110毫米，Y 80毫米，Z方向20毫米。此外，它還配備了一個自動樣品交換器和一些樣品冷卻選項，例如可選的低溫擴展器。JEOL JEM 2010還設有一個自動電子控制機器，用於校正樣品漂移並實時聚焦光束，以及一個強大的圖像處理軟件，可以用來分析數據。JEOL JEM-2010擁有多個樣品持有者、強大的成像能力和先進的功能,是對樣品進行詳細分析和成像的完美工具。
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