二手 JEOL JEM 2010 #293741442 待售
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ID: 293741442
Transmission Electron Microscope (TEM)
Accelerating voltage: 200 kV
Point resolution: 0.19 nm
Equipped with 5-axis micro-active goniometer
LaB6
Double tilt holder
Single tilt holder
Chiller
Controller
HT Generator
PC
Table
Operating system: Windows XP
(2) Modes of operation:
Convergent Beam Diffraction (CBD) mode for crystal symmetry analysis
Nano Beam Diffraction (NBD) mode for crystal structure for nano-particles
GATAN CCD camera and Digital Micrograph provides:
Improved lattice-resolution
Automated measurement capabilities
Real-time video recording.
JEOL JEM 2010是一款高端掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供卓越的成像性能和最大的操作效率。它配備了增強型電子光學柱和高性能二次電子檢測器，確保了最高水平的圖像清晰度和分辨率。這臺顯微鏡在30 kV時的最大分辨率為15mm，投影圖像尺寸為1微米或更小。其放大倍率範圍為15倍至300,000x，能夠輕松地在各種SEM成像模式之間切換。JEOL JEM-2010還配備了具有自動聚焦功能的高級自動化采樣階段和高度通用的數字成像設備。這樣可以進行動態圖像采集和快速分析。它提供了廣泛的樣品成像可能性：從超高放大為SEM成像，到低放大為大面積表面分析。它還配備了集成電子反向散射衍射（EBSD）系統，用於詳細的晶粒分析。它可以同時獲取亮場、暗場和偏振光圖像。JEM 2010提高了效率和吞吐量,包括使用粒子圖像測速儀對樣品進行自動對準、軟件輔助樣品定心和自動圖像增強等功能。對於高級自動化以及2D和3D測量,JEM-2010擁有AutoVision imageCapture和imageAnalysis軟件。這個自動化的樣品成像裝置具有先進的模式識別、分類和分析，以及全彩色立體重建，以確保顯微鏡的結果準確可靠。JEOL JEM 2010采用易於使用的控件和易於操作的用戶界面設計，非常適合研究和教育設施。它甚至適合先進的生產線，具有快速的周轉時間和直觀的用戶控制。這種掃描電子顯微鏡具有模塊化的設計理念，具有潔凈室標準的兼容性和先進的機器功能。JEOL JEM-2010具有高度的自動化、安全機制和全球支持,是所有研究和生產應用中SEM的可靠選擇。
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