二手 JEOL JEM 2010 #293751171 待售

JEOL JEM 2010是一款先進的掃描電子顯微鏡，設計用於納米尺度物體的成像和分析。它是一種數字成像設備,具有3.2海裏的高空間分辨率、先進的樣品制備功能、對比度控制成像設備和現場分析功能。顯微鏡可用於多種類型的成像和分析應用，如反向散射電子成像、二次電子成像、X射線微分析、渦流探測、元素映射、相組成分析和化學成分分析。此外，JEOL JEM-2010還配備了5軸計算機控制的采樣級，使操作員能夠以極高的精度以各種角度執行成像和分析任務。除了成像能力外，JEM 2010還配備了先進的能量色散X射線系統（EDX），允許用戶對自己的樣品進行高靈敏度和精確度的元素分析。該單元利用0-100 kV的分析範圍，可以在原子水平上檢測元素。此外,EDX檢測器允許快速映射樣品中檢測到的每個元素,從而實現元素分布的成像。JEOL 2010還配備了數碼相機，能夠以高達15.6百萬像素的分辨率從成像階段拍攝圖像。此模塊為用戶提供高分辨率的實時圖像流,可用於成像、觀察或與同事共享結果。最後，JEM-2010配備了EDGE機器，允許用戶在電場中探測他們的樣本。該工具使用能量高達4 keV，可用於各種任務，如檢測缺陷、表面分析、金屬蝕刻和合金分析。總體而言，JEOL JEM 2010是一款先進的掃描電子顯微鏡，具有卓越的成像能力和強大的分析功能。其用途廣泛、用戶友好的設計使其成為廣泛的科學研究、工業和教育應用的理想工具。