二手 JEOL JEM 2010 #293754755 待售

JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於產生生物和非生物材料表面的極高分辨率圖像。它具有高性能30kV肖特基場發射器，產生高亮度和小交叉尺寸的電子束。這保證了極好的光束相幹性和分辨率，使得能夠獲得高質量的圖像和詳細分析各種材料的微觀結構。JEOL JEM-2010提供了多種成像技術，可用於獲取不同類型的數據。這些包括二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BSEI）和陰極發光成像（CLI）。所有這些技術都可以用於研究多種材料，如金屬、聚合物和薄膜。此外，該儀器還可用於分析微觀結構信息、高分辨率元素映射和X射線微觀分析。JEM 2010旨在實現最大的可靠性,提供較長的工作時間和最短的停機時間。它具有一個新開發的電子光學系統，允許穩定的操作和優越的圖像性能。它還裝有一個12厘米x 12厘米的大樣板室，以便於樣品的操作和方便的樣品移動。此外，JEM-2010提供了一個集成的環境標本室和氣體註入系統，可用於環境觀測和樣品制備。該儀器非常用戶友好,具有自動操作功能和9英寸觸摸靈敏控制面板。它還使用戶能夠輕松保存、檢索和分析數據。JEOL JEM 2010還配備了專用的微分析計算機，專門設計用於分析SEM圖像，具有強大的圖像處理能力。JEOL JEM-2010提供卓越的成像性能,適合各種材料成像.它是故障分析、過程控制、研發等應用的理想工具。此外,它的模塊化設計和高級功能使其成為各種成像任務的理想選擇。