二手 JEOL JEM 2010 #293797155 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293797155
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INCA X-Sight
OXFORD Link ISIS EDX System
GATAN MultiScan 794 CCD Camera
Cathodes: Lab6 With filament
VARICON De-Vere 504 Enlarger
Camera pixel size: 1024 x 1024
Operating voltage: 120-200 kV.
JEOL JEM 2010是一款分辨率為0.25 nm、加速電壓為0.01-100 KV的STEM（掃描透射電子）顯微鏡，非常適合滿足先進的分析和3D成像應用需求。它具有革命性的低對準光學性能。低對準技術能夠對納米級樣品進行極大的靈活性和快速、可靠的分析。這臺尖端顯微鏡配有EDX（能量色散X射線）探測器，用於精確的元素分析。此外，JEOL JEM-2010還配備了超級透射電子顯微鏡（STEM）檢測器和納米孔徑（NA）檢測器。STEM檢測器允許用戶提高分辨率並選擇最佳放大範圍，而NA檢測器則提供高分辨率的納米結構圖像。JEM 2010還具有先進的成像系統,具有IPS（圖像處理軟件）,可在0.2毫秒集成時間內提供高達每秒12幀（fps）的成像,非常適合明場和多角度暗場圖像。圖像處理系統對於具有廣泛對比度的材料的亞微米成像具有強大而有效的性能。JEM-2010還利用高速Z驅動級方便、精確地移動樣品，實現納米顆粒的高分辨率斷層掃描。此外，JEOL JEM 2010具有出色的分辨率和對比，其集成的高效Cs校正器用於校正色差。它還通過其低溫成像的綜合低溫級提供了先進的分析能力，從而能夠對其自然環境中的生命形式進行成像。這個用途廣泛的系統能夠進行各種各樣的實驗，從簡單的元素分析到復雜的3D成像應用，使其成為高級電子顯微鏡研究的理想選擇。其先進的成像和分析能力，結合低對準光學，使JEOL JEM-2010研究納米材料和生命形式的理想儀器。
還沒有評論