二手 JEOL JEM 2010 #293799508 待售

JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），能夠產生高分辨率、亞微米圖像。它具有高速SEM成像、電子反向散射衍射（EBSD）成像和能量色散X射線光譜（EDS）的能力。JEOL JEM-2010最多可容納2個樣本用於同時成像,從而實現快速高效的樣本到樣本切換。JEM 2010配備了野外發射源（FEI）槍，使顯微鏡達到高分辨率。它有一個三級槍對準設備，用於最佳的光束傾斜和柱頭，以及先進的電子光學設計和電子光學來優化性能。該系統提供2到200kV的操作範圍，傳統和肖特基場效應發射器可用於靈活性和高性能的組合。JEM-2010能夠使用鏡頭內二次電子探測器快速成像，從而最大限度地減少掃描調整和微調所需的時間。該單元還具有一個帶有閃爍體的反向散射電子探測器，該探測器可最大化視場以獲得最佳的反向散射分辨率。此外，該機器還能夠利用其專為特定電子顯微鏡應用而設計的PräcisionGmbH設備進行采樣加熱。該工具配有多種成像選項，包括低真空和高真空操作能力，允許在空氣中或受控真空下成像。再者，它配備了標準的4象限鏡頭內反向散射電子探測器（BSED），信噪比大於6000：1。JEOL JEM 2010附有獨特的標本操縱資產，允許1 nm閉環步長的精細樣本級。該模型還具有用於放大地形成像的無鉻EBSD探測器。這些特征共同促進了對相位識別、晶粒大小和晶體學取向等樣品特征的快速高效分析。JEOL JEM-2010還配備了實時成像能力，允許生物和催化材料在進行原位反應時直接成像。此外，該設備還可以與第三方真空測試系統集成。JEM 2010是一個功能強大且用途廣泛的系統,可為各種任務提供卓越的性能。其高分辨率成像能力，結合樣品加熱和EBSD成像特性，使其成為生物、地質和材料科學應用的理想選擇。