二手 JEOL JEM 2010 #293818185 待售

JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀察各種樣品的微觀結構。JEOL JEM-2010憑借其精確的光學設計,能夠實現高分辨率成像和圖像采集.它具有獨特的半倒設計，為低放大率提供了完美的光學對準。該型號配備了高斯型冷凝器透鏡，可以將電子束聚焦到超細的光斑尺寸，從而能夠進行勘測和分析應用。此SEM還具有可變壓力後加速配置,旨在抑制由於樣品充電而產生的偽影的數量和大小。JEM 2010先進的數字圖像處理系統提供令人驚嘆的實時成像性能。儀器配備了高達30 keV的電子束能量，使操作員即使在低放大率下也能獲得高質量的圖像。以1 µm的像素大小，JEM-2010的最高分辨率壓碎了所有競爭對手的模型，並提供了無與倫比的圖像質量來可視化標本的納米結構。為提高易用性,JEOL JEM 2010具有用戶友好的GUI,使數據采集和操作變得輕松一致。該儀器還兼容了許多掃描電子顯微鏡技術如EDX和LA-ICP-MS，以及許多SEM圖像分析軟件程序。JEOL JEM-2010配有許多配件,可進一步增強用戶體驗。其中一些包括自動機械手、前側槍、低真空槍、低真空級、自動試樣處理器和在分析時切換方向180°的反向取樣裝置。總體而言，JEM 2010是一款功能強大的掃描電子顯微鏡，為用戶提供無與倫比的圖像質量和功能，旨在提高效率，減少樣品分析所花費的時間。