二手 JEOL JEM 2010 #9192793 待售

JEOL JEM 2010是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合從微米到納米尺度的多種底物。這臺功能強大的儀器通過利用電子創建可用於研究和工業應用的3維圖像來捕捉原子世界的圖像。JEOL JEM-2010具有直徑200 mm的大型樣品放置級,利用電磁力達到6個自由度,提供精確和受控的樣品移動。這款SEM還擁有高分辨率的野外發射槍，提供高達10nA光束電流的亮度和1nm的光斑大小分辨率，以提供卓越的圖像質量。此外，先進的電子光學設備，配有三個多功能偏轉器和一個客觀的孔徑控制系統，使用戶能夠準確捕捉樣品的圖像。該單元包括用於表面信息的二次電子成像、用於查看地形和組成的反向散射電子成像以及允許用戶以高分辨率對比度增強來成像的高分辨率探測器等大範圍成像功能。通過結合這些成像能力，JEM 2010可以在一系列應用中檢測微觀結構、粒子和缺陷等微妙特征。這一通用儀器提供了大量的分析信息。除了SEM圖像，可選的能量色散X射線（EDX）檢測器可以提供元素信息。自動化控制功能（如自動舞臺移動和實時參數設置）減少了執行分析所需的時間。JEM-2010配備了包含圖像處理和分析功能的軟件套件。此綜合套件與第三方應用程序一起,提供了多種測試後處理選項,包括3D重建、光譜分析和光譜成像。軟件還提供機器控制和連接選項,以確保無縫高效的工作流。總之，JEOL JEM 2010是一種先進和通用的掃描電子顯微鏡，提供高分辨率成像和廣泛的分析能力。其用戶友好的設計和內置功能使其非常適合工業和研究應用。