二手 JEOL JEM 2010 #9207418 待售

JEOL JEM 2010是一款最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供最高分辨率的可用圖像。它專為提供高級映射功能而設計,使用戶能夠詳細研究許多功能。JEOL JEM-2010的開發是為了滿足材料科學、工業和法醫應用方面的研究需求。該設備由樣品室、探測器（EMF/EDS/Super X）、電子槍和控制系統四大部件組成。試樣室具有低噪聲地板，可實現最高的圖像質量，而無需清潔或額外的輔助設備。靜電冷凝器和法拉第籠式旋轉陽極有助於確保最佳的圖像質量，幾乎沒有圖像偽影。電子槍是來自所有能量的電子被加速並聚焦到包含在腔內的樣品上的手段。它配有鎳纖維透鏡，可實現最佳光束/樣品相互作用。超級X槍的特色包括高強度的對焦控制、非常廣泛的重建能力，以及更高的分辨率。Detec tor單元允許同時檢測在樣品的消逝場中產生的電子、X射線和二次電子信號。該探測器具有很高的動態範圍和靈敏度，非常適合捕捉精確的圖像。該機器還允許同時使用EDX/WDS和Super X功能來繪制樣品的元素和化學成分以及其他重要信息。該控制工具是JEM 2010運作的組成部分。它由圖形用戶界面（GUI）以及各種軟件工具組成,使用戶能夠控制操作的所有方面,從波束電流和條件到數據分析和可視化。該軟件還允許與其他系統輕松集成，如3D映射和圖像分析軟件。JEM-2010是一種功能強大的高端掃描電子顯微鏡,可提供卓越的圖像質量和詳細的映射功能。它是參與高分辨率研究和分析的任何實驗室環境的理想工具。卓越的軟硬件結合，讓JEOL JEM 2010成為對最先進的SEM感興趣的人的絕佳選擇。