二手 JEOL JEM 2010 #9241415 待售

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製造商
JEOL
模型
JEM 2010
ID: 9241415
Transmission Electron Microscope (TEM) GATAN INC GIF 2002 CCD X-Ray detector GENESIS XM 2 Imaging 60 TEM HAADF STEM Detector system HASKRIS 806 Refrigerated water re-circulating system GATAN 782 Microscope camera LaB6 filament 2.3 Å point-to-point filament image resolution EDAX Elemental composition analysis Film: Upgraded with top mount digital camera for capturing images Ion getter pump Oil diffusion pump Mechanical pumps (Vacuum system) Water chiller.
JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於在10 ×以下至10萬 ×以上的放大倍數範圍內對樣品進行一致的成像和分析。它可以快速準確地觀察小型生物和非生物標本的表面。JEOL JEM-2010配備了能量色散光譜(EDS)設備,使其能夠分析樣品的元素組成。這一特征使得能夠對微觀樣品中存在的化學物種進行定量分析。SEM配備了1.2納米色差校正器,以降低圖像在更高放大倍率下的模糊性。它還具有快速掃描龍門,可提供同類SEM中分辨率最高的圖像。JEM 2010的活動面積為5mm x 5mm,工作距離為20mm。這樣就可以觀察小樣本,而不需要過長的樣本到目標的距離。活動區域的右上角靠近腔窗視圖,允許更高質量的顯微照片。該系統還采用了集成的數字成像單元,提供了強大的圖像處理水平。此功能提供了一系列功能,包括縮放、放大、對比度調整、銳度、負片和無損圖像編輯。它還包括一個1K深圖像內存和存儲多達5000個圖像的設施。JEM-2010有一個8段計算機控制的舞臺,可以以1mm/sec的速度水平移動高達100 mm的物體。此階段可用於映射幻燈片位置和提高映射效率。它還包含一個3 D傾斜階段,允許在兩個軸上最多移動10度,允許傾斜照明以實現深度感知。集成柱控制機允許在低空和高空掃描條件之間快速切換。這使得SEM可以進行從非導電到高導電樣品以及從非磁性到磁性樣品的廣泛成像,都是一個開關。JEOL JEM 2010是一個令人印象深刻的SEM軟件包,有大量的功能支持。其多功能性和強大的成像能力使其成為許多科學、工業和學術掃描電子顯微鏡應用的絕佳選擇。
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