二手 JEOL JEM 2010 #9277008 待售

JEOL JEM 2010是為高級研究應用而設計的高端掃描電子顯微鏡（SEM）。它結合了高通量可變壓力電子源，以提高儀器性能。這種掃描電子顯微鏡適用於廣泛的成像和分析應用，包括固體和液體的基礎研究、材料加工和表征，以及半導體器件結構分析。JEOL JEM-2010提供多種分析能力，例如使用能量色散X射線分析（EDXA）進行元素成分測定，以及通過二次電子（SE）成像進行半導體電路結構分析。其其他特徵包括亮場、暗場、偏振和電子衍射成像選項。JEM 2010配備了高性能電子柱，允許以更高的放大倍數對樣品進行動態二次電子成像。柱內主電子束偏轉系統進一步加強了這一點，為用戶提供了對主電子束的精確控制，並使聚焦調整更加容易。JEM-2010柱還能夠承受範圍廣泛的加速電壓，範圍從1到30千伏，以適應不同的成像和分析要求。此外,還具有超高分辨率掃描功能,最小分辨率為2.5 nm。最大視場為1000 μ m。JEOL JEM 2010的高通量可變壓力電子源在可視化樣品表面的精細細節方面提供了極好的分辨率，提高了生產率。它還通過具有直觀設計控制功能的人體工程學環境提供高效舒適的操作環境。最後，JEOL JEM-2010得到出色的客戶服務和支持，為用戶提供必要的維護和維修協助，以確保儀器的最佳性能。