二手 JEOL JEM 2010 #9278784 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 9278784
優質的: 1995
Transmission Electron Microscope (TEM)
LaB6 Source
Equipped with:
IDE Active vibration system
OXFORD 4Pi Horizontal EDS
GATAN 830 Orius bottom mount camera
JEOL Single tilt holder
GATAN Double tilt holder
High resolution pole piece in column
Includes:
Tools
Spare parts
Additional spare LaB6 Cathode
No STEM Detector
No EELS
Power supply: 200 kV
1995 vintage.
JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡(SEM),為研究實驗室提供強大的成像能力。它具有高達30 kV的加速電壓,允許以高分辨率捕捉更多細節。此外,JEOL JEM-2010擁有非常寬的視野,最大變焦範圍為令人印象深刻的8,000倍。因此,這種顯微鏡對於放大小特征的樣本特別有用,從而能夠對被觀察的結構進行詳細的檢查。該儀器由一個場發射槍(FEG)源提供動力,最大限度地減少電子束掃描噪聲,並以令人難以置信的高放大倍率提供高度詳細的圖像。這樣可以更精確地測量尺寸、形狀和構圖等特征。此外,顯微鏡的能量色散光譜系統允許對化學成分進行定量分析。JEM 2010的設計具有符合人體工程學的工作空間,並且易於進入腔室及其輔助部件。這種工作流程簡化設計允許顯微鏡平穩高效的操作,這也降低了由於手動錯誤而造成組件損壞的風險。而且,其堅固的設計適合長期的穩定性和可靠性。JEM-2010具有創新的冷卻系統,無需低溫制冷,以及計算機控制的有源氫氣凈化系統,可進行長期無缺陷觀察。總之,JEOL JEM 2010是一種強大的掃描電子顯微鏡,它提供了研究實驗室工作所必需的各種特性和能力。它具有廣泛的放大範圍和眾多的控制系統,允許對高度詳細的樣品進行準確和容易的分析。
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