二手 JEOL JEM 2010 #9375954 待售

JEOL JEM 2010是一款高性能掃描電子顯微鏡（SEM），專為包括表面地形、元素映射和結構分析等一系列應用而設計。JEOL JEM-2010結合了前所未有的入射電子束控制、成像性能和操作簡便性,可用於高級成像應用。JEM 2010強大的電子光學允許精確控制入射電子束形狀，實現卓越的光斑分辨率和增強的成像性能。Multi-true Focus Bolometer允許精確控制偏轉角度和光束尺寸,並提供出色的單點分辨率。優化的柱設計還采用了先進的成像技術，具有高精度角光、三倍像差校正器和二次電子檢測器，具有卓越的成像分辨率和對比度。JEM-2010集成了一系列方便用戶的操作,包括直觀的圖形用戶界面和自動校準功能。自動校準系統簡化了SEM的設置，允許精確控制諸如加速電壓和光束電流等成像參數。此外，創新的自動鏡頭對準系統進一步確保了一貫準確的成像。JEOL JEM 2010的環境控制是為了長期的圖像穩定性和一致性而設計的。柱保護機制利用對柱壓力和溫度的仔細調節,而溫度控制單元則根據需要調整柱溫度。此外，創新的舞臺力學和空氣飽和驅動系統提供了高水平的掃描精度，提供卓越的穩定性和樣品保護。JEOL JEM-2010是一臺真正先進的掃描電子顯微鏡，即使是最苛刻的實驗室也能滿足需求。精密電子光學與強大的自動化控制相結合,可實現卓越的成像性能,並簡化操作以實現最大效率。JEM 2010卓越的圖像分辨率、用戶友好的操作和出色的環境控制，使其成為一系列研究應用的理想顯微鏡。