二手 JEOL JEM 2010 #9384836 待售

JEOL JEM 2010是一種高分辨率、掃描電子顯微鏡（SEM）。這是一個可變壓力掃描電子顯微鏡能夠成像樣品在廣泛的放大範圍，從10倍到2000倍。低真空成像能力允許對非導電樣品材料進行高分辨率成像，而無需金屬塗層或染色。掃描電子束也可用於分析目的。JEOL JEM-2010配備了一個自動二次電子探測器、兩個反向散射電子探測器、能量色散X射線光譜（EDS）和一個用於雙束成像的顯微鏡設置。JEM 2010設計用於成像和分析。它配備了分辨率為3.4nm 30kV的高分辨率單色儀，提供了非常細致的高分辨率圖像。還有一個自動校準設備，用於調整級位和電壓設置，以優化成像和分析。JEM-2010的高端成像和分析能力使其非常適合材料研究的許多應用。它非常適合半導體表征和故障分析,以及法醫成像.在納米級研究領域也得到了成功的應用。JEOL JEM 2010使用基於等離子體的電子光學透鏡，允許高分辨率成像的放大倍數範圍很廣。顯微鏡還利用一系列光學器件獲取樣品的詳細信息。其中包括電磁冷凝器透鏡、物鏡和物鏡中心場透鏡。加速度電壓可以改變成像，從5kV到30kV，和分析，從0.1kV到30kV。JEOL JEM-2010有一個獨特的自動化系統,能夠快速輕松地進行設置。自動化的自動光束對準裝置能夠快速準確地對準光束，從而即使對於具有挑戰性的樣品也能獲得所需的分辨率。自動染色機也使得制備成像樣品更加容易。JEM 2010是一款出色的高分辨率掃描電子顯微鏡，提供出色的成像和分析能力。它非常適合廣泛的樣本分析任務。自動化系統使設置和使用更快、更容易,低真空成像使其成為樣品制備的理想選擇。