二手 JEOL JEM 2010 #9394893 待售

JEOL JEM 2010是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用高壓電子束，以極高的細節放大和分析at樣品的表面。此SEM能夠提供高達0.09 nm的高分辨率圖像,放大倍率範圍為400-500,000 X。JEOL JEM-2010以靈敏度高、運行成本低而聞名,是研究和醫療環境中各種應用的理想選擇。顯微鏡本身由幾個成分組成。系統的核心是電子源、槍組件和標本級。電子源通過一個專門設計的物鏡發射一束精細聚焦的電子束。這些電子隨後被引導到樣品階段，在那裏它們與樣品相互作用，產生樣品表面的放大圖像。JEM 2010具有多種功能，可用於多種應用。它能夠產生高對比度和非常好的分辨率的圖像。顯微鏡還可用於對準和測量極小的特征，如亞穩態區域、砷化的屏障和非常薄的薄膜。此外，它還具有捕獲時間解析圖像的能力，這對於研究表面現象的動力學很有用。JEM-2010還具有集成的EDS系統,X射線探測器安裝在軸上。這允許在電子束掃描時對樣品組成進行組成分析，可以為法醫學或醫學研究提供有價值的信息。總體而言，JEOL JEM 2010是一款功能極為強大的掃描電子顯微鏡，具有廣泛的功能和特點。它具有高度的通用性和兼容的各種配件和樣品階段，使其成為一個偉大的選擇，為各種多樣的應用。