二手 JEOL JEM 2010 #9397253 待售

JEOL JEM 2010是一種高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），提供優越的成像能力來分析納米級上廣泛的Types樣品的結構。適用於材料科學與工程、地質、生物等領域的應用。JEOL JEM-2010提供了一系列規格和功能,使其成為分析研究的有力工具。JEM 2010是一種場發射SEM，利用無間隙、非絲狀電子源，產生高質量、高分辨率、最高對比度的圖像。它配備了超高分辨率的野外發射槍、高靈敏度的反向散射電子探測器，以及一個自動聚焦系統，以捕捉細密、納米級的圖像，其尺度可達0.2nm。其超高質量分辨率使JEM-2010能夠提供樣品最外層原子層的圖像。除了強大的成像能力外，JEOL JEM 2010還提供X射線光譜和能量色散X射線（EDX）功能來分析樣品的成分。它配有X射線探測器、波長色散光譜儀和能量色散系統，用於檢測樣品中化學元素濃度的信息。JEOL JEM-2010還提供了一系列的標本操作工具，如可旋轉樣板級和自動傾斜旋轉臺。這有助於研究人員快速準確地測試各種樣品條件。JEM 2010有很大的放大倍率範圍，適合分析廣泛的樣本量。最大放大倍數可達300,000倍,最小輸出功率為2 MV。它還具有10-90度的三維成像傾斜角範圍和0.3nm的精確樣品控制範圍。這樣可以確保樣品始終與電子束保持正確的距離，以進行精確的測量。JEM-2010能夠在低溫至高溫下成像,最佳範圍為-25°C至+80°C。它還允許用戶調整束電流、光斑大小和可調電子光譜濾波器，以便在收集到的數據中具有更大的通用性。JEOL JEM 2010先進的成像能力和更廣泛的功能使其成為納米級研究的理想工具。