二手 JEOL JSM 6340F #145143 待售

JEOL JSM 6340F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），具有出色的成像能力。該設備專為材料科學、半導體、納米技術和生物學研究領域的各種應用而設計。JEOL JSM-6340F具有全自動、緊湊的柱設計，並配備了一系列探測器，包括EDX（能量色散X射線光譜儀）系統、反向散射電子（BSE）探測器和二次電子（SE）探測器。這款SEM還配備了一個頂級的線下真空（LV）二次電子成像單元。全自動掃描控制提供了快速、可靠的數據采集功能,允許通過各種放大倍數對各種樣品類型進行高分辨率成像。高性能的SE檢測器提高了高放大倍率下捕獲圖像的對比度和清晰度。JSM 6340 F的一個獨特特點是其出色的低真空二次電子成像機，該技術提供了從5倍到300,000倍的廣泛放大，為研究人員提供了一種用於多尺度樣品分析的強大工具。該工具提供各種試樣階段，包括大直徑、低背景的LV試樣初始化特征和自動翻譯階段。JSM 6340F提供了廣泛的功能,使數據采集和分析更加簡單快捷。自動掃描速度控制確保準確的樣品準備和成像.反向散射電子（BSE）探測器幫助研究人員確定樣品的組成和特性。能量色散X射線光譜儀（EDX）使用戶能夠快速分析未知樣品元素並進行元素分析。此外,該資產還配備了多尺度成像軟件,使用戶能夠輕松處理JEOL JSM 6340 F捕獲的圖像。該高級軟件提供了一系列功能,如自動縮放、彩色編碼和縮放,使研究人員能夠更有效地分析其數據。綜上所述，JSM-6340 F掃描電子顯微鏡是廣泛的材料科學、半導體、納米技術和生物研究應用的理想工具。高度自動化的儀器在5倍至300000倍的放大倍數範圍內提供出色的成像能力。此外，該型號配備了廣泛的探測器，包括一個反向散射電子（BSE）探測器、一個能量色散X射線光譜儀（EDX）設備和一個頂級的線下真空（LV）二次電子成像系統。為了便於進一步的數據分析，儀器還配備了先進的多尺度成像軟件。