二手JEOL JSM 6340F待售

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JEOL
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JSM 6340F
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JEOL JSM 6340F #9276338

JEOL

JSM 6340F

Microscope.
139
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JEOL JSM 6340F #145143

JEOL

JSM 6340F

Scanning electron microscope, 4", parts system Specifications: In-lens secondary electron detector
419
JEOL JSM 6340F #9364860

JEOL

JSM 6340F

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
200
JEOL JSM 6340F #9003281

JEOL

JSM 6340F

SEM Specifications:   a. Performance SEI Resolution : 1.2 nm guaranteed (Acc. V. = 15kV) 2.5 nm gu
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