二手 JEOL JSM 6340F #293601758 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6340F
ID: 293601758
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6340F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有高質量、高性能的設計,可滿足廣泛的樣品成像和分析需求。JEOL JSM-6340F具有較大的景深,允許在不同的深度觀測物體。樣品被聚焦的電子束照亮,然後掃描整個樣品,從而可以創建3 D圖像。JSM 6340 F具有自動對焦系統、圖像采集系統和高性能電子槍,具有廣泛的分析能力,包括材料分析和元素映射。電子槍能夠操作到10kV,可以用於元素映射、成像和源分析。先進的圖像處理系統和數字信號處理可以對圖像進行清晰的細節和分辨率分析。JEOL JSM 6340 F設計靈活,允許使用各種不同孔徑的探測器和探測器。這允許捕獲信號、二次電子和反向散射電子,或全部三個,從而產生互補的圖像。該範圍還有一個無凍原操作,確保最佳性能,同時保持節能。JEOL JSM-6340 F提供先進的軟件功能和直觀的用戶界面,便於設置和操作。該軟件包括一個板載的操作程序庫和微調參數以獲得最佳結果的能力。廣泛的軟件包可用於自動化和數據分析,如可編程註釋工具、自動邊緣分辨率功能以及自動峰值檢測和測量算法。JSM-6340F可為各種樣本量提供可靠、高性能和多用途的成像功能,從而獲得可靠和可重現的結果。其直觀的用戶界面允許方便的設置和操作,使其成為材料研究、工業分析和許多其他應用的理想選擇。
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