二手 JEOL JSM 6340F #293775744 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6340F
ID: 293775744
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), parts system.
JEOL JSM 6340F是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。它配備了一個納米聚焦電子束柱,以及用於成像、分析和材料表征的多種特征。SEM旨在生成任何樣品表面的清晰圖像,無論其大小或復雜性如何。JEOL JSM-6340F配備了LaB6電子槍,產生能量高、散度低的電子。這使得電子束的精確聚焦能夠創建即使是最小特征的銳利圖像。該儀器還配備了先進的阻尼技術,可減少成像過程中的漂移和振動,確保準確性並消除偽影。SEM具有高靈敏度的閃爍體和移光片,能夠以更高的放大倍率和分辨率成像。這樣可以改進對組成和結構信息的檢測。顯微鏡還具有一個索引設備,以便更快和更容易操作。該自動對準系統保證了光束的可靠和可重復對準。這樣就不需要手動調整光束,從而大大節省了時間並提高了潛在的分辨率。JSM 6340 F的其他特性包括高速樣本掃描單元、自動控制機和集成數字信號處理器。自動控制工具維持顯微鏡腔室的精確溫度和濕度,為操作創造穩定的環境。集成數字信號處理器還允許高效的數據處理和圖像分辨率。JEOL JSM 6340 F是需要最高精度和分辨率的應用的理想掃描電子顯微鏡。廣泛的選擇和功能使得這種最先進的顯微鏡幾乎適合任何SEM成像應用。
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