二手 JEOL JSM 6340F #9276338 待售

JEOL JSM 6340F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），專為高度詳細、高分辨率的成像而設計，適用於廣泛的應用。JEOL JSM-6340F是一種像差校正場發射槍SEM，提供了無與倫比的半導體器件和電路分析、故障分析和形態學檢查。它以超穩定可靠的納米級成像設備為後盾，用於最高質量的成像。JSM 6340 F具有廣泛的成像能力，包括反向散射電子（BSE）成像、二次電子（SE）成像和組成光譜成像。它甚至可以檢測具有集成EDS檢測器功能的最小低溫樣品變化。其高端場發射電子源提供了高達0.8納米的超高穩定性和分辨率。先進的光學柱利用雙透鏡散光系統，提供一個極其穩定的成像環境與先進的光學單元。它具有可在操作過程中進行角度校正的角偏轉器，使其成為更高成像分辨率的理想工具。JSM 6340F具有多種高級功能,使其成為高級映像的理想選擇。它配備了一個高真空室，該室經過設計，可以在超高真空環境中進行樣品成像。腔室也可以在較低的真空條件下操作，使其適合檢查需要較低真空條件的樣品。它還提供各種高級控制功能和功能。它包括一個用於調節場發射電流和加速電壓的控制面板。它還具有使用內置操縱桿控制焦點和柱頭設置的能力。它還具有一個自動偏轉反轉機，允許快速成像恒定的物體大小和放大。此外，JEOL JSM 6340 F通過其軟件提供高級成像能力。它具有增強版本的TEM映像軟件,可為用戶提供執行像差校正後的TEM映像任務所需的工具。它還包括一個功能強大的3D圖像重建和分析軟件，允許用戶將來自各種圖像的信息組合在一起，創建樣本的三維圖像。JSM-6340F是一種高級成像工具,可幫助用戶為各種應用程序創建高度詳細、高分辨率的成像。它能夠檢測最小的低溫樣品變化，並提供各種高級控制和成像功能。憑借其先進的光學資產，它可以為用戶提供最優質的成像，並以超穩定可靠的納米級成像模型為後盾。