二手 JEOL JSM 6340F #9364860 待售

JEOL JSM 6340F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於產生小型、形態復雜結構的高分辨率圖像。它能夠檢測到小至0.1納米的特征，從而實現小結構特征的可視化，而無需進一步放大。它具有場發射電子源，能夠產生電流小於5毫安的電子束，使圖像具有高分辨率和圖像穩定性。此外,SEM的數字真空設備在色譜柱中提供了清晰的真空,從而形成了一個高度穩定的成像平臺。為了獲得沒有人工制品的高質量圖像，JEOL JSM-6340F提供了一種先進的二次電子探測器，它具有光阻滯器和柱內能量濾波器。阻光器有助於減少外部光源造成的圖像失真，而柱內能量濾波器則可以通過允許最佳電子能量調節來調節以增加對比度。這會導致更高的對比度圖像,尤其是在識別小特征時。而且，JSM 6340 F的標本室支持包括可變壓力（VP）、低真空（LV）、掃描透射電子顯微鏡（STEM）模式在內的多種觀察模式。VP模式抑制了對物體的充電效果，而LV模式便於對非導電樣品成像。至於STEM，顯微鏡的像差校正物鏡允許量化樣品組成。JEOL JSM 6340 F也很好地配備了柱內成像系統。這一單元包括一個柱內偏轉器和掃描線圈，用於樣品定位和聚焦，以及一個精確掃描階段，它允許穩定的樣品安裝和可重復掃描。此外，內置的低漂移隔振機為最大限度地減少相機震動造成的截面變形和樣品圖像傾斜提供了額外的支持。JEOL JSM-6340 F帶有精確對準和自動掃描模式，用於掃描模式中的微調。對準系統對樣品進行精確快速對準，以獲得最佳掃描分辨率。還有一個內置的自動對焦工具,可幫助保持一致的圖像質量和分辨率。總之，JSM-6340 F是一種先進的掃描電子顯微鏡，能夠產生低漂移、低噪聲的高分辨率圖像。它配備了各種功能和附件，以增強其功能，使其成為形態學復雜結構成像的理想選擇。