二手 JEOL JSM 6490LV #293594823 待售
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ID: 293594823
Scanning Electron Microscope (SEM)
Magnification: 8x to 300,000x
Image mode: SEI, BEI, Low vacuum BEI
Probe current: 1 pA to 1 µA
Low vacuum mode resolution (BEI): 4 nm at ACC 30 kV, WD: 5 mm
Pressure: 10 Pa to 270 Pa
Lowest pressure: 1 Pa
Image mode: BEI-Composition-topography
No DP
Lens: Electromagnetic 2-stage zoom condensor
Lens type: Objective lens (Supper conical mini lens)
Dynamic focus: Linked to AccV and magnification auto focus tracer
Wobbler
Automatic focusing (AFD)
Specimen stage type: Eucentric
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Vacuum pump:
Primary: Turbo pump
Secondary: Rotary pump
Resolution:
3 nm at ACC 30 kV, WD: 8 mm, SEI
8 nm at ACC 3 kV, WD: 6 mm, SEI
15 nm at ACC 1 kV, WD: 6mm, SEI
Full automatic stage (X, Y, Z, R, T):
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: WD: 5 mm to 48 mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360° (Endless)
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），以其卓越的圖像分辨率，高分辨率成像（HRI），使用壽命長而聞名。它利用電子束獲取樣品的圖像。這款SEM完全自動化，具有完全集成的試樣級、集成的雙檢測器系統和真空系統。JEOL JSM-6490LV是一種可提供高達1 nm分辨率的SEM,能夠以高達100,000 x的倍率生成三維圖像。它針對需要高分辨率成像的薄膜材料、金屬和其他材料進行了優化成像。精確的光束控制和高級成像功能,加上其自動化功能,使JSM 6490LV成為材料表征、故障分析和研究應用的理想工具。JSM-6490LV的雙重探測器對二次電子、反向散射電子和X射線信號提供了優越的靈敏度和檢測。探測器從一定角度收集信號，並為需要復雜對準和多方向成像的樣品提供充分的便利。JEOL JSM 6490LV產生的圖像提供了良好的對比度和精確的細節，使其成為缺陷分析的理想儀器。JEOL JSM-6490LV有一個全自動的標本級，可以編程為線性和角運動，分辨率為0.1 μ m（10 nm）。這使得使用者可以快速準確地重新定位標本，從而改善成像和分析。先進的試樣導航和位置控制確保每次成像時總是在同一個試樣上使用正確的設置。標本級還配備了環境控制和防振選項，最大限度地減少成像過程中的任何運動失真。JSM 6490LV掃描電子顯微鏡為廣泛的材料表征應用提供了一種有效的成像解決方案。是故障分析、納米級成像、研究的理想儀器。其卓越的分辨率、自動化功能和先進的雙探測器使其成為需要精確和詳細成像結果的實驗室設置的絕佳選擇。
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