二手 JEOL JSM 6490LV #293800978 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6490LV
ID: 293800978
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6490LV是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於各種研究和工業應用。為了能夠對樣品進行精確成像,顯微鏡同時利用二次電子和反向散射電子。JEOL JSM-6490LV配備了高分辨率和高倍率場發射槍(FEG)電子槍,可實現30 kV的最大加速電壓以及提供高達1.3 nm分辨率的高分辨率SE/BSE檢測器。這種顯微鏡的獨特之處在於它的低真空工作模式,非常適合非導電試樣或當需要觀測低kV電子時。這款顯微鏡配備了健壯的自動顯微鏡車身驅動系統和大直徑高性能物鏡。因此,它能夠對高度高達200 mm的樣品進行高分辨率成像,並具有高達60°的孔徑角。此外,JSM 6490LV還提供了可選的5:1視場範圍,從而提高了系統觀察大型樣品的能力。此SEM的成像能力超出了典型的表面特性成像。該顯微鏡配有能量色散X射線檢測器,能夠對從的元素進行化學、結構和定量的元素分析。此EDX檢測器能夠在幾秒鐘內獲取數據並執行詳細分析,從而使用戶能夠收集有關其樣本的大量信息。這臺顯微鏡的高分辨率、多功能性和自動掃描控制也使其成為3 D重建和斷層掃描成像的理想選擇,允許全方位觀察標本特征。總之,JSM-6490LV為研究人員提供了一種功能強大、用途廣泛的成像工具,能夠在各種研究和工業應用中準確成像低強度和高強度樣品。它結合了電子槍、探測器和自動掃描控制,為成像和分析各種樣品提供了一個全面的系統,另外還有一個好處,即能夠在瞬間內進行許多這樣的分析。
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