二手 JEOL JSM 6490LV #293811638 待售

JEOL JSM 6490LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於材料研究的強大儀器.它結合了二次電子成像原理和高分辨率分析能力。這臺儀器配備了肖特基場發射槍（FEG），發射高聚焦電子束用於透射和掃描電子顯微鏡。FEG具有低電壓、高電流和極低的電子能量擴散。這使得高分辨率成像在亞納米尺度和更好的分析標本。除了卓越的成像能力外，JEOL JSM-6490LV還配備了最先進的能量色散X射線光譜儀（EDX）。這一分析成分可準確收集化學成分數據，包括樣品中存在的元素及其相對濃度。此外，EDX的利用通過提供額外的見解而增加了SEMs的成像能力，而這些見解並不是單獨在二次電子圖像中看到的。EDX系統還包括高效無窗檢測器、高靈敏度多通道分析儀，以及功能強大的能量色散X射線微分析軟件包，方便快速的樣品分析。JSM 6490LV還配備了牛津INCA X-Flash EDX探測器。這進一步提高了EDX系統的準確性，因為它提供了低能量靈敏度的元素高達鉑金和優秀的信噪比。牛津INCA還具有較低的計數率能力，可以對微量元素進行更詳細的分析。JSM-6490LV是一個高度通用的SEM,具有多種映像功能。它可用於低壓和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）模式。在低壓SEM模式下，顯微鏡在0.3到25kV的電壓範圍內工作，提供無與倫比的圖像分辨率。然而，在ESEM模式下，JEOL JSM 6490LV能夠進行廣泛的環境研究，並且能夠檢測到高真空和低大氣壓（低至0.1毫巴），而無需中間的真空室。總體而言，JEOL JSM-6490LV是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，具有出色的成像和分析研究功能。適用於廣泛的研究應用，包括粒子分析、形態學研究、綜合材料分析。此外，JSM 6490LV能夠在低壓和環境掃描電子顯微鏡模式下工作。這使得它成為從事材料科學、地質、生物醫學研究和納米技術高級研究的研究人員的理想工具。