二手 JEOL JSM 6490LV #9229495 待售

JEOL JSM 6490LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高度先進的儀器，用於對各種材料的三維結構進行成像和分析。其最先進的設計具有一個可精確控制運動的大型5軸舞臺,允許快速掃描大面積區域。這使6490LV成為進行一般材料調查和分析的理想選擇。該6490LV具有高電子場發射的電子柱和40,000至90,000V的大場發射槍（FEG）源。電子光學包括一個掃描線圈冷凝器系統，為最佳成像條件和從10倍到15,000倍的放大倍數提供各種冷凝器設置。18-60mm的寬可選工作距離可用於操作多個附件,如探測器、透鏡和樣品支架。該6490LV配備了多種探測器，可同時成像多種類型的信號信息。這包括一個6k x 8k像素分辨率的反向散射檢測器，以獲取高分辨率的SE（次級電子）圖像。它還包括高分辨率SE1檢測器、高靈敏度BSE（反向散射電子）檢測器和可選的EBSD（電子反向散射衍射）檢測器，用於微觀結構表征。強大的X射線探測器使6490LV能夠生成用於化學分析的X射線圖和剖面圖。它包括四套探測器；閃爍探測器、能量色散X射線光譜儀（EDS）探測器、無線電滲透探測器和波長色散X射線光譜儀（WDX）。EDS和WDX檢測器能夠高分辨率、高精度地分析元素組成.該6490LV的設計考慮了用戶的便利。彩色觸摸屏面板可輕松控制SE/BSE檢測器、電壓調節、舞臺設置和數據采集。內置的設計靈活性功能允許用戶在環境模式和分析模式之間快速切換。總之，JEOL JSM-6490LV掃描電子顯微鏡是一種先進、通用的儀器，能夠對各種材料進行成像和分析。其出色的電子光學、可選擇的采樣級和檢測器陣列為用戶提供了廣泛的功能範圍，使其成為研究和分析的理想選擇。