二手 JEOL JSM 6490LV #9278879 待售
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ID: 9278879
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.0 nm
Includes:
(2) CPU
(3) APC Back-ups
KEITHLEY 487 Picoammeter / Voltage source
KE Infrared chamber scope interface
JOEL MP-05010
Net gear ProSafe 5 Ports
(2) PANASONIC Vacuum pumps
Power cords
(2) Monitors
Power supply: 100 V, 50/60 Hz, 30 A.
JEOL JSM 6490LV是一種用於研究實驗室和教育機構的高精度掃描電子顯微鏡（SEM）。它為放大倍率、分辨率和電子束提供了廣泛的選擇，允許對質量優越的微量和納米材料進行成像。JEOL JSM-6490LV提供出色的分辨率,能夠將材料放大到100,000倍。它配備了LaB6的高壓電子源，提供穩定清潔的電子束。該源提供極低的噪聲水平，並且能夠實現亞微米電子束穩定性，用於精確的束操作。JSM 6490LV有一個樣品室，設計方便安裝和去除樣品。有了清晰的取景器，很容易快速檢查樣品，而隨附的LED樣品照明更容易識別和定位樣品。SEM還配備了自動對焦技術，允許對腔內物體進行自動對焦和掃描。此外,JSM-6490LV還具有先進的兩軸采樣級,采樣容量可達300 x 300 mm。它還配備了提供準確性、穩定性和可重復性的超精密機動運動系統。SEM還能夠以各種模式獲取圖像,包括SEM、EDS、CL和立體圖像。最後，JEOL JSM 6490LV還有一個先進的篩選和過濾系統，在成像各種材料時提高儀器的精度。它既有數字信號輸出，也有模擬信號輸出，並配有控制電子光學和樣品分析的內置軟件。JEOL JSM-6490LV具有強大的設計和先進的功能,是各種材料科學研發應用的理想工具。
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