二手 JEOL JSM 6490LV #9293317 待售
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ID: 9293317
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDAX Octane 9 Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Operating system: Windows 10
DENTON VACUUM Desk V Sputter coater
With specimen holders and accessories
Electron gun
Pre-centered tungsten
Accelerating voltage: 0.3 Volts to 30 kV
High vacuum resolution: 3 nm at 30 kV
Low vacuum resolution: 4 nm at 30 kV
Magnification: 5x - 300,000x Secondary electron image
Auto-focus
Auto-stigmator
Auto-gun (Saturation, Bias and Alignment)
Auto-contrast
Auto-brightness
Continuous auto bias
With fine X/Y controllable directions
Diffusion pumped specimen chamber
Specimen stage
Motions:
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: 5 mm to 80 mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360° Continuous
Full coverage: 32 mm
Maximum specimen size, 8”
Coverage specimen loadable, 12”
Super conical objective lens
(3) Objective final lens apertures
High resolution LCD monitor, 20"
BSE Detector.
JEOL JSM 6490LV是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。它基於由電子槍、圓柱和各種探測器組成的雙束技術平臺。電子槍是一種熱弧陰極，能夠發射著陸能量為0.5 keV、最大功率為25 keV的電子。指導電子束的柱是100 kV可變級，最大加速電壓為30 kV。此列獨特的低壓特性為樣品提供了最高分辨率的成像,同時在圖像方面提供了最大的靈活性。JEOL JSM-6490LV還具有廣泛的成像能力，如標準SEM應用的二次和反向散射圖像，以及波長色散光譜（WDS）、能量色散光譜（EDS）和電子微探針分析（EPMA）等先進應用。使用EDS，用戶可以通過檢測樣品在被電子束轟擊時發出的X射線，從樣品中獲取元素信息。JSM 6490LV配備了全電動樣板舞臺、電動迷你SEM舞臺和電動XYZ舞臺。有多種物鏡可供選擇，用戶可以觀察到放大倍數從10倍到700,000倍的樣品。它還包括一個自動像素大小調整系統，以提高圖像分辨率。該系統包括真空泵，以確保樣品室始終保持在高真空狀態。這允許在樣品幹擾最小的情況下進行高分辨率成像和光譜實驗。JSM-6490LV也可以用各種機械手操作，如靜電透鏡轉塔、光圈、放大倍率和偏轉，從而能夠對電子束進行精細的位置控制。總體而言，JEOL JSM 6490LV是一種強大的掃描電子顯微鏡，專為高精度、超高分辨率成像和光譜應用而設計。它具有通用的雙光束設計、多種強大的探測器、全機化的采樣臺、一系列物鏡以及用於高效采樣處理的真空泵。集成軟件易於使用,並提供了多種設置,可根據用戶的確切需求定制成像或光譜性能。
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