二手 PHILIPS / FEI Altura 855 #9329323 待售

ID: 9329323
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Sample holder, 6" Piece holder load lock entry, 8" Electron source: Schottky FEG Beam current: 22 nA Ion column: Sidewinder Imaging resolution: 3 nm at 1 kV Ion beam resolution: 5-7 nm TLD UHR, SRH, and BSE Detectors for SEM CDEM Detector for ion (2) Gas chemistry FEI Navigator-KLA / TENCOR Chiller Transformer Stages: X, Y-Axis: 205 x 205 mm 45 mm ZRT Rotation: 360° -5° to 65° ZRT 5-Axis stage motor Turbo pump with XDS 10 Operating system: Windows.
PHILIPS/FEI Altura 855是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在為廣泛的科學應用提供成像解決方案。它是一種用於表面成像和分析的高性能、超高分辨率工具。它非常可靠、節能、易於維護。該系統圍繞一個最先進的電子柱進行設計,該電子柱使用高端球面像差透鏡(SAL)來產生極高分辨率的圖像。這使得研究人員能夠精確地成像和分析甚至極小的結構。SEM還包括集成的肖特基場發射電子槍,以快速的圖像采集速率提供穩定可靠的操作。FEI Altura 855是一個多功能系統,能夠進行多種不同的分析。可用於分析多種表面,包括金屬、陶瓷、復合材料和半導體。也可用於提供微觀結構的詳細分析,如晶粒尺寸、結構、組成等。高分辨率成像能力使得它非常適合生物應用,如DNA和蛋白質的納米級成像。此外,該系統設計為在樣品制備方面高度通用,使研究人員能夠檢查從液體到固體的各種樣品。PHILIPS Altura 855配有一系列附件,可實現樣品處理和成像的自動化和方便。這包括一個集成的自動級,可以加載一系列樣本,然後遠程控制和監控。它還包括一個自動對焦功能,這是為了維持圖像分辨率甚至在大的景深。Altura 855為廣泛的科學應用提供了可靠、節能和高性能的成像解決方案。855以其高分辨率的成像能力、集成的肖特基槍以及一系列的配件,是研究人員尋找高質量、準確成像結果的理想工具。
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