二手 AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9121584 待售

ID: 9121584
晶圓大小: 12"
優質的: 2002
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" Install type: Stand alone (3) Cassette interface: FOUP, 12" Roll-around ergo station with touch screen Status lamp Options: Slope reconstruction CH analysis Profile grade Discrete inspection Defect review ARAMS (ES8) CE Marked Power requirements: 120/208 V, 8 A, Single phase / 3 Phase, 5-Wire, 50/60 Hz 2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D是一種先進的晶圓測試和計量設備,結合了納米級監測和過程控制的關鍵技術。AMAT NANOSEM 3D能夠在大面積的納米尺度上精確測量低至<10 nm的圖樣和精確的3D成像。它用於評估各種材料和工藝,包括加工、計量和缺陷分析,在廣泛的半導體、光電子和納米材料的應用。APPLICED MATERIALS NANOSEM 3D系統結合了專利光刻/線降解分析(LDA)與板載電子顯微鏡(EM)斷層掃描和自動化材料分析工具。該單元提供完整的3D視場(FOV)圖像,顯示2D和3D結構的精確細節,以及線緣粗糙度(LER)測量。LDA技術提供了用於檢測邊緣粗糙度的高級自動化功能,並且可以檢測、量化和表征低至幾納米的微小特征。NANOSEM 3D系統具有全自動圖像捕獲功能、高吞吐量性能和數據實時可視化功能。該計算機包括易於使用的用戶界面以及向導和指南,可實現高效、方便的操作。它還具有廣泛的高級功能,包括遠程和本地操作、高分辨率圖像、4-D成像以及專門的分析工具。AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D工具旨在優化流程流程並縮短分析時間,同時提供高質量的詳細數據。集成平臺允許在擴展的掃描深度上分析大面積的陣列,從而以集成的方式全面查看3D結構。此外,該資產能夠對測試操作期間收集的數據進行精確分析,並在每個階段提供精確的圖像分辨率。AMAT NANOSEM 3D系統適用於多種應用,如計量和計量輔助過程控制、缺陷檢測和分析、線緣粗糙度測量、線寬測量等。該模型非常適合用於半導體、光電子和納米材料的生產過程。此外,該設備非常適合針對特定應用程序的定制解決方案。APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D為準確可靠的測試信息提供了最先進的解決方案。
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