二手 AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9353975 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D
ID: 9353975
晶圓大小: 12"
優質的: 2004
Scanning Electron Microscopes (CD SEM), 12" 2004 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D晶圓測試和計量設備是對具有納米級特性的半導體器件、納米材料和材料進行表征、過程控制和高級故障分析的高度先進的工具。該系統結合了創新的硬件和軟件功能,方便超高分辨率3D顯微鏡。硬件包括具有可選單色特性的低真空超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)、高真空二次電子(SE)檢測器、柱內可伸縮成像光學室、聯合真空技術(AVT)氣櫃和定制應用的運動無運動粒子註射器(MPI)。這種硬件組合允許以納米分辨率對設備進行高分辨率成像。AMAT NANOSEM 3D單元可實現1納米的全分辨率,即0.0001mm,允許對材料和結構進行極其詳細的表征。該機器還包括其他有用的軟件和系統,可用於多種分析和成像任務。一個集成的光譜工具允許能量色散光譜(EDS),可以用來分析材料到納米級的組成。還提供了自動過濾和對比度增強技術,使用戶能夠快速輕松地分析大型數據集。資產還包括眾多的QC和過程控制功能。它集成了缺陷檢測功能,為用戶提供了檢測和隔離納米級缺陷的能力。集成的舞臺控制模型可實現樣本的精確移動和定位,並具有手動和自動化功能。最後,APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D為用戶提供了一套功能強大的故障分析工具。其自動化軟件允許分析故障隔離、熱點分析、電氣故障分析以及一系列其他故障分析任務。總之,NANOSEM三維晶片測試和計量設備是一種先進、集成的納米級材料表征、控制和分析系統。此單元非常精確,包含一系列用於分析、計量和故障分析任務的硬件和軟件功能。
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