二手 BRUKER Contour GT-X8 #9399868 待售

BRUKER Contour GT-X8是一種最先進的晶圓測試和計量設備,旨在滿足半導體器件表征最苛刻的要求。它提供了一套廣泛的工具,可以描述各種材料、設備結構和幾何形狀。該系統配備了一個大的工作區域，具有高度精確和可重復的10nm螺距步進級以及一個非接觸光學表面剖面儀和用於3D地形測量的高度傳感器。輪廓GT-X8對半導體器件上的納米級臨界尺寸（CD）進行快速、高精度的步進掃描測量。高通量操作確保了即使是最復雜的結構的高效表征。BRUKER Contour GT-X8利用一系列先進的成像和測量技術，包括散射測量、光學幹涉顯微鏡、太赫茲光譜和聲學顯微鏡來提供設備結構的全面表征。可以現場測量各種物理和電氣參數，包括板材電阻、表面平整度、厚度、沈積速率、表面粗糙度、納米結構輪廓和材料組成。輪廓GT-X8可以與原子力顯微鏡、橢圓偏振和納米壓痕等其他工具集成在一起，以提供額外的表征功能。此外，該單元還可以連接到高性能計算機上進行數據分析和可視化。該機器還配備了用戶友好軟件，用於自動設置和數據收集。直觀的界面允許精確的參數設置和高級數據管理。該工具的高級分析功能可用於查看和比較來自不同掃描的數據,以確保數據的準確性和可重復性。總體而言，BRUKER Contour GT-X8為納米結構的可靠、準確和無損特性提供了一個完全集成的平臺。該資產先進的成像、測量和分析納米級結構的能力使其成為半導體行業研發的重要工具。