二手 BRUKER / SLOAN DEKTAK IIA #293615478 待售

BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA晶片測試和計量設備提供了對半導體晶片、基板和其他微電子元件表面地形的精確和高效測量。該系統利用先進的光學幹涉測量技術，以較快的掃描速度和精度測量高縱橫比溝槽、深度和高度。Dektak BRUKER IIA為方便晶圓尺寸從50毫米到200毫米，配備了放大的光學腔室。該單元支持具有10 µm位置精度的大型200 mm晶片，並具有晶片位置、自動對焦和凹式晶片傾斜調節的全軟件控制功能。Dektak SLOAN DEKTAK IIA具有控制掃描過程的直觀圖形用戶界面。用戶界面提供了一個易於使用的菜單機器來設置測量工具。Dektak IIA還包括資產調整程序和各種數據分析工具,以確保測量速度和準確性。使用標準解析器校準功能,用戶可以輕松地為其應用程序選擇最佳測量分辨率設置。Dektak BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA以其先進的多坐標橫截面和擴展掃描功能支持全晶圓映射。此功能使用戶能夠在晶圓的整個表面上測量到3維深度、高度和輪廓。通過自動高度優化軟件,Dektak BRUKER IIA能夠自動調整測量頭的高度水平以保持一致的測量結果。總體而言，SLOAN DEKTAK IIA晶片測試和計量模型是分析半導體晶片和其他微電子元件表面地形的強大、準確和可靠的設備。Dektak IIA具有直觀的圖形用戶界面、可調節的測量頭的高度水平以及各種數據分析工具,非常適合許多不同的測量應用。