二手 KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293758831 待售

ID: 293758831
晶圓大小: 4"-8"
優質的: 1996
Non-patterned surface inspection system, 4"-8" Defect sensitivity: 0.12 micron at 95% capture Haze sensitivity: 0.02 PPM Wavelength: 488 nm Argon laser: 30 mw PC Board Blue laser Spot size: 90 µm Scan frequency: 170 Hz Scan pitch: 10, 20, 40 µm Throughput: 120/6" WPH Single puck handling from single cassette or platform XY Coordinates CD ROM Writer CIM: GEM / SECS Operating system: Windows 98 1996 vintage.
KLA/TENCOR 6420晶圓測試和計量設備是一種全自動工具,自動化了在矽晶圓上優化和測試集成電路(IC)的任務。KLA 6420提供了快速、準確和可靠的方式來快速、準確地測試大量芯片。TENCOR 6420系統使用先進的光學和計算系統來測量大型晶片上測試芯片的尺寸、形狀和方向的微小變化。它設計為用途廣泛,允許計量和測試各種晶圓類型。該系統提供快速、精確和多用途的晶片采購,以準確、高效地評估芯片-具有快速的吞吐量和周轉時間。該單元由光學頭、舞臺和控制器三個主要組件組成。光學頭包含用於成像的各種光學元件,如照相機、鏡頭和發光二極管(LED)。借助這些組件,機器精確測量了測試芯片的尺寸、形狀、方向等具體特點。該級是負責在晶片上精確定位測試芯片的另一個重要組成部分。它由一系列精密導軌和執行器組成,這些導軌和執行器可以在x、y和z軸上精確、快速地移動晶片。控制器是工具後面的大腦。它控制舞臺、光頭和數據采集軟件的運動。它包含智能高效的強大軟件,可以快速準確地測量大量測試芯片。6420工具還提供各種專門針對特定應用程序量身定制的軟件包。這些軟件包旨在提高整個測試過程的準確性和吞吐量。這些軟件包還允許數據分析、統計過程控制以及允許用戶優化測試過程的各種其他功能。KLA/TENCOR 6420晶圓測試和計量資產提供了一種快速、準確和可靠的方式來快速、準確地測試大量芯片。對於需要高質量芯片才能生產產品的半導體和電子制造商來說,這是一個必不可少的工具。通過自動化測試過程,企業可以提高運營吞吐量,降低測試成本,確保高質量的終端產品。
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