二手 KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293822127 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan是一款晶圓測試和計量設備，設計用於半導體器件的性能和質量保證。6420系統可以在最現代的先進封裝和設備上快速準確地檢測缺陷和表面特性，包括高密度翻轉芯片設備和光學元件。該單元使用先進的圖像分析和先進的機器學習技術來檢測小的結構和參數缺陷，以及與標稱值有較大偏差的缺陷。6420機器通過掃描獲取高分辨率、高質量的晶片圖像，進行非接觸晶片表面測試和計量。該工具采用真空控制的閉環對峙掃描工藝，能夠對大型基板上的晶圓特征進行快速、準確和可重復的測量。這可以提高晶片與晶片的對準精度，並允許對範圍廣泛的電子封裝和設備尺寸進行可重復掃描。該資產提供了廣闊的視野和高動態範圍,允許檢測微觀和納米缺陷,同時允許測量設備特性（如顛簸、擴展器和尺寸）。這有助於識別非模具變異，特別是那些太小而無法被人眼察覺的變異。該模型能夠在單個掃描中檢測數百個較小的缺陷和變化,以及在單個模具上掃描數百個模式定義。KLA 6420 Surfscan提供了一個直觀且用戶友好的界面,用於構建數據集和開發配方。該設備具有先進的參數選擇和統計分析能力，可以比較從一個批次到另一個批次的檢測結果。這可以幫助識別未知缺陷,並最大限度地減少額外測試的需求。該系統還提供了廣泛的可視化選項,允許用戶快速查看結果。TENCOR 6420 Surfscan提供了一個集成的缺陷審查單元,它為邊緣粗糙度或不規則性、汙染和芯片提升等最常見的指標提供了高效的缺陷審查和大小調整。自適應缺陷映射功能使用戶能夠輕松地檢測和隔離感興趣的缺陷。此外,該機器支持高性能數據傳輸,允許將數據快速、安全地傳輸到其他系統。該工具還支持多種文件類型,從而可以輕松地與其他系統和數據源進行協作。對於高級產品,資產支持各種專門的缺陷映射功能和高級特征分析,以確保最大質量保證。6420 Surfscan專為性能和質量而設計,為各種半導體器件和封裝提供強大的測試和可視化功能。它是安全高效地檢查先進電子元件的質量參數並進行高精度、可重復測量的理想解決方案。