二手 LEITZ LIS #293598594 待售

LEITZ LIS是尼康計量公司開發的先進晶圓測試和計量設備，幫助半導體制造商降低測試和測量其產品所需的成本、復雜性和時間。它結合了高分辨率激光幹涉儀的威力和先進的成像技術，為制造商提供了所需的性能和精度。LIS系統由高度敏感的激光幹涉儀組成，它以3D測量晶片表面，精度高達0.1納米。激光幹涉儀用於精確測量晶圓的最大表面輪廓，以及其偏差或微結構特征。成像裝置以高達5000倍的高倍率捕捉晶片表面的圖像，發現常規光學顯微鏡無法看到的任何缺陷、缺陷和異常。成像技術為客戶提供晶片表面的非常詳細的表示,使他們能夠識別任何潛在問題,並在需要時采取糾正措施。LEITZ LIS還提供了一個全面的計量包，設計用於分析晶圓幾何的各個方面，如表面粗糙度、線性度、直線度、平行性和角度。此外，該機還可用於檢測晶片或晶片上的電位應力和應變模式，以及晶片上的基板和氧化物層的折射率。LIS是一種易於使用和全面的工具，具有徹底改變晶圓測試和計量行業的潛力。它提供了高精度、重復性和準確性,以及集成的分析解決方案,使制造商能夠快速識別任何潛在的缺陷和異常,從而減少制造時間和成本。LEITZ LIS是尋找可靠和先進晶圓測試和計量資產的半導體制造商的理想解決方案。