二手 LEITZ MPV-SP #9238324 待售

LEITZ MPV-SP是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於生產環境。該系統配備了多個測量探頭，能夠對單個晶片上的各種特征進行極其精確的測量。MPV-SP具有集成視覺單元、激光和電動坐標測量機（CMM）,可精確檢查300 mm以下的晶片。它有一個彩色共焦顯微鏡，使用白光和激光對不同的景深（DOF）和不同的特征檢測在一個單一的圖像。機器還包括一個板載自動對焦工具，提供精確的，可重復聚焦每個晶圓圖像確保一致準確的結果。機載自動聚焦資產即使是最微弱的特性也能檢測和集中使用,並且經過優化,可以同時使用硬質材料和軟質材料。LEITZ MPV-SP還有一個先進的模式識別模型，可以精確的檢查表面均勻性到一微米大小。設備配備了一系列傳感器，提供質量控制和自動坐標對準。這些傳感器測量晶片的平坦度和地形，甚至能夠檢測到最小的表面變化。該系統集成了一個圖像處理單元，具有許多專門為表面計量設計的算法和測量技術。其先進的成像算法能夠準確分析表面粗糙度等特征，從而提供準確、定量的結果。與市面上的其他系統不同，MPV-SP包含集成的模具識別機。此工具旨在自動識別和分析數百種不同的模具形狀和尺寸,並實時提供詳細的結果。資產可以在一系列參數上記錄和輸出信息，從最簡單的測量到最嚴格的規範。該型號設計為非常直觀和用戶友好,並且易於安裝和維護。它能夠在各種具有挑戰性的生產環境中運行。它包括一個友好、用戶友好的界面，以及各種自動化的測試腳本，使設置和操作變得快速和容易。該設備能夠同時使用硬質和軟質表面材料，能夠精確測量各種特征，具有極高的精度和可重復性。