二手 LEITZ SP #109670 待售

LEITZ SP晶片測試和計量設備是晶片工業中使用的一種先進的計量工具，用於檢查晶片表面和電氣參數。該系統提供最精確的晶圓測試和計量結果，能夠測試各種尺寸和厚度的晶圓。SP是一個自動化的測試和計量單元,具有集成的交互式觸摸屏界面。運動控制機驅動激光和線性級，從而能夠精確測量晶圓表面和器件參數。該工具可以快速準確地測量表面地形和電氣特性等表面參數。LEITZ SP具有高速成像顯微鏡，配備了高端sCMOS相機和光源，以捕捉晶圓表面的詳細圖像。它能夠一次測量多達兩個晶片，並且可以以高達900毫米/秒的速度進行測量。它還配備了可以精確測量晶圓輪廓到0.01 µm以內的多點波束剖面儀。該資產還具有可測量電阻、電容和電導等電特性的光學探測器陣列。SP還包括缺陷檢測模型,該模型允許自動檢測晶片中的缺陷。該設備由提供快速高效數據處理功能的軟件套件支持。該軟件為用戶提供了一個功能強大的圖形用戶界面,用於設置配置、分析和報告。綜上所述，LEITZ SP晶片測試和計量系統是一種創新工具，旨在滿足晶片行業的需求。它提供了對晶片表面參數和電氣特性的高度精確、精確和自動化的測量。該單元由可靠高效的運動控制機驅動，配有高速成像顯微鏡和缺陷檢測工具，並由軟件套件支持，用於快速高效的數據處理。SP可以幫助晶片制造和研究實驗室提高晶片測試的精度和準確性。