二手 JEOL JSM 6100 #9157307 待售

JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用二次電子（SE）在電子顯微鏡中產生樣品的高分辨率圖像。JSM 6100是一種可變壓力掃描電子顯微鏡，允許操作員將腔室的壓力從0.3帕斯卡（約合2毫升）的高壓改變為10-6帕斯卡（約合30納托爾）的低壓。這種壓力範圍允許通過降低充電效果來成像非導電樣品。標本級可以旋轉360°，傾斜範圍為-80°至+90°，是傾斜成像的理想選擇。標本階段還可以協助操作者進行標本高度調整。樣品可以放在一個支架中，並升高到只有8mm的短工作距離的物鏡，使其成為需要高放大倍率的小樣品的理想選擇。這種高放大倍率是由於鏡頭放大幅度為5倍至45,000倍而得以實現的。JEOL JSM 6100也有兩個30 kV SE探測器設計同時使用，每個探測器的放大倍率範圍為30 x至20000 x。JSM 6100配備了Everhart-Thornley型SE探測器，用於成像導電和非導電樣品。該探測器使用法拉第杯檢測電子反向散射，使用固態探測器（TED）檢測次級電子。Everhart-Thornley SE探測器具有廣泛的動態範圍和分辨率，可以在樣品表面帶出精細的細節。Everhart-Thornley SE探測器可以與第二個探測器，一個發散的長發射電子源（LEED）結合，將探測範圍擴大到原子尺度。LEED可用於非導電表面成像和晶體結構的精確測定。LEED源具有兩個具有手動控制的孔徑,並能夠將發射電流從0-100 nA改變。JEOL JSM 6100是一款功能強大的掃描電子顯微鏡，非常適合以納米尺度分辨率成像樣品。它能夠對非導電樣品成像，分辨率和準確性都很高。JSM 6100是用於成像導電和非導電表面細節以及原子結構確定的理想工具。