二手 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293586543 待售

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220是一種領先的晶圓測試和計量設備，用於觀測和分析晶圓和其他半導體材料表面的粒子級特征。了解半導體產品表面特征的精細細節非常重要,因為它們定義了半導體產品的性能,並最終定義了設備的質量。ADE AFS 3220提供了精確而全面的3D表面計量解決方案,可以在大面積上測量特征,包括粒子、標記、結構和幾何特征以及異常形狀。利用掃描和地形技術，可以測量這些特征的表面均勻度、寬度、高度和曲率半徑。KLA AFS 3220提供兩種主要掃描模式，使其成為晶圓測試和計量的理想工具。第一種掃描模式是線路掃描,用於大面積快速測量。此模式非常快速地捕獲原始形狀和表面地形數據。第二種掃描模式是區域掃描,它可以更詳細地捕獲更高分辨率的數據。此模式可用於粒子表面特征的詳細分析。該系統配備了高分辨率成像傳感器、激光精密掃描級，以及用於精確可靠成像的自動化算法。它還包括一個高精度的Z範圍定位單元,它允許更廣泛的視野和更多的曲面特征。AFS 3220的一個關鍵特點是其自動成像過程,它消除了手動成像步驟,確保了結果可重復和可重現。它還提供了一個直觀的用戶界面，有助於最小化培訓時間，允許用戶在沒有大量指導的情況下快速啟動和運行。總體而言,TENCOR AFS 3220是一臺可靠且用戶友好的機器,它允許用戶準確地捕獲、分析和報告半導體產品的各種粒子級表面特征。對於那些需要對晶圓測試和計量進行有效和準確評估的人來說，這是一個不可或缺的工具。